合金元素分析儀

合金元素分析儀

        如今，各種合金已經(jīng)在各行各業(yè)各領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，可以說已成為我們生活所*之物，那么，為了生產(chǎn)出各種不同規(guī)格和性能的合金，以更好地在不同用途上發(fā)揮合金的更大作用，就需要對合金進行元素分析。合金元素分析儀便是分析合金中元素的合適儀器。

        合金元素分析儀可檢測普碳鋼、低合金鋼、高合金鋼、生鑄鐵、球鐵、合金鑄鐵等多種材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多種元素。是基于X射線理論而誕生的，它主要用于、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨經(jīng)濟崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域*的快速成份鑒定工具。

        是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道為接近核子，每個電子軌道則對應(yīng)某元素一個個特定的能量層。在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光放射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光放射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

          可謂在分析檢測合金元素時具有重要的意義，是制造高性能合金的重要幫手。