原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。

產品型號：HG13- NanoFirst-2000

更新時間：2024-05-28

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產品介紹

原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針

型號：HG13- NanoFirst-2000

產品介紹：

（Atomic force microscopy）是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極min感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光，zui后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
產品特點：
計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
na米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．
標準RS232串行接口,無需ren何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配na米刻蝕功能模塊。
技術指標:
AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標準6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標)
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識別
44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)
AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）