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            • BX-Y1247D1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
              BX-Y1247D1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

              產品型號

              BX-Y1247D

              廠商性質

              生產廠家

              更新時間

              2024-05-15

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              產品描述

              1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
            • BX-Y1247E1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
              BX-Y1247E1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

              產品型號

              BX-Y1247E

              廠商性質

              生產廠家

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              2024-05-15

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              產品描述

              1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
            • BX-Y1247F1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
              BX-Y1247F1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

              產品型號

              BX-Y1247F

              廠商性質

              生產廠家

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              2024-05-15

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              產品描述

              1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
            • BX-Y1245C800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
              BX-Y1245C800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

              產品型號

              BX-Y1245C

              廠商性質

              生產廠家

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              產品描述

              800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
            • BX-Y1245D1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
              BX-Y1245D1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

              產品型號

              BX-Y1245D

              廠商性質

              生產廠家

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              產品描述

              1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
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